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半导体科学与技术丛书
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作者:"杨德仁"
半导体材料测试与分析
:杨德仁
作者：
杨德仁
出版社：
科学出版社
出版时间：
20100101
ISBN：
978-7-03-027036-8
索书号：
TN304/18
分类号：
TN304
页数：
xi, 381页
价格：
CNY78.00
丛书：
半导体科学与技术丛书
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本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术, 涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容: 包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。
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20100101
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