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出版社:"西安电子科技大学出版社" 作者:"茅健"
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    互换性与技术测量:茅健

    作者:茅健 出版社:西安电子科技大学出版社 出版时间:20210101 ISBN:978-7-5606-6193-3
    索书号:TG801/250\2 分类号:TG801 页数:208页 价格:CNY31.00
    丛书:高等学校机械设计制造及自动化专业系列教材
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    本书共分为10章, 第1章阐述了互换性的基本概念, 第2-4章阐述了极限与配合、几何公差、表面结构等机械零件公差与配合的基础知识, 第5-8章阐述了滚动轴承、键与花键、圆柱齿轮和螺纹等典型零件的精度设计基础知识, 第9-10章阐述了 几何量测量的基础知识及光滑极限量规的精度设计。本书各章附有相关的复习与思考, 以配合教学的需要, 也便于读者自学。
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