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半导体科学与技术丛书
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作者:"许振嘉"
半导体的检测与分析
:许振嘉
作者：
许振嘉
出版社：
科学出版社
出版时间：
20070001
ISBN：
978-7-03-019462-6
索书号：
TN304/7\2
分类号：
TN304.07
页数：
635页
价格：
CNY98.00
丛书：
半导体科学与技术丛书
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
全书共分7章，包括引论，半导体的高分辨X射线衍射，光学检测与分析，表面、薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征。书中根据实践列举了一些实例，同时附有大量参考文献和常用的数据，以便读者进一步参考和应用。
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作者
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20070001
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