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作者:"郝跃, 刘红侠"
微纳米MOS器件可靠性与失效机理
:郝跃, 刘红侠
作者：
郝跃, 刘红侠
出版社：
科学出版社
出版时间：
20080101
ISBN：
978-7-03-020586-5
索书号：
TN4/50
分类号：
TN4
页数：
xiv, 446页
价格：
CNY78.00
丛书：
半导体科学与技术丛书
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本书主要介绍了微纳米MOS器件的失效机理与可靠性理论, 目的是为读者在微电子器件可靠性理论和微电子器件的设计与应用之间建立联系, 向读者提供一些微纳米MOS器件的主要可靠性问题和相应的解决方法。
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科学出版社
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作者
郝跃, 刘红侠
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出版年
20080101
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