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碳化硅技术基本原理: 生长、表征、器件和应用:(日) 木本恒畅, (美) 詹姆士·A. 库珀, James A. Cooper, 夏经华 ...
作者：(日) 木本恒畅, (美) 詹姆士·A. 库珀, James A. Cooper, 夏经华 ...
出版社：机械工业出版社
出版时间：20180101
ISBN：978-7-111-58680-7
索书号：TQ174.75/12
分类号：TQ174.75
页数：xiii, 500页
价格：CNY150.00
丛书：新型电力电子器件丛书
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本书是一本有关碳化硅材料、器件工艺、器件和应用方面的书籍, 其主题包括碳化硅的物理特性、晶体和外延生长、电学和光学性能的表征、扩展缺陷和点缺陷, 器件工艺、功率整流器和开关器件的设计理念, 单/双极型器件的物理和特征、击穿现象、高频和高温器件, 以及碳化硅器件的系统应用, 涵盖了基本概念和新发展现状, 并针对每个主题做深入的阐释, 包括基本的物理特性、新的理解、尚未解决的问题和未来的挑战。