每页显示
排序选项
排序方式
-
嵌入式系统中的辐射效应:(法) 拉乌尔·委拉兹克, (法) 帕斯卡·弗埃雷特, (巴西) 里卡多·赖斯, Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis, 黄云 ...
作者：(法) 拉乌尔·委拉兹克, (法) 帕斯卡·弗埃雷特, (巴西) 里卡多·赖斯, Raoul Velazco, Pascal Fouillat, Ricardo Reis, 黄云 ...
出版社：机械工业出版社
出版时间：20180101
ISBN：978-7-111-58286-1
索书号：TP360.21/164
分类号：TP360.21
页数：11, 234页
价格：CNY79.00
丛书：国际电气工程先进技术译丛
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书从环境、效应、测试、评价、加固和预计等方面介绍了嵌入式系统中的辐射效应, 主要内容包括空间辐射环境、微电子器件中的辐射效应、电子器件的在轨飞行异常、多层级故障效应评估、基于脉冲激光的单粒子效应测试和分析技术、电路的加固方法及自动化工具、辐射效应试验测试设备以及数字架构的错误率预计方法等。