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作者:"(法) Michael Nicolaidis, 韩郑生, 毕津顺"
现代电子系统软错误
:(法) Michael Nicolaidis, 韩郑生, 毕津顺
作者：
(法) Michael Nicolaidis, 韩郑生, 毕津顺
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
20160101
ISBN：
978-7-121-29097-8
索书号：
TN103/20
分类号：
TN103
页数：
16, 240页
价格：
CNY59.00
丛书：
国防电子信息技术丛书
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本书系统阐述了软错误发生的复杂物理过程，全书共分为10章。主要介绍了软错误研究历史和未来发展趋势； 单粒子效应发生机制与分类；JEDEC标准；门级建模与仿真；电路级和系统级单粒子效应建模与仿真；硬件故障注入；采用加速测试与错误率预估技术，评估验证面向空间或地面环境的集成电路；电路级软错误抑制技术；软件级软错误抑制技术；高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。
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作者
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