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作者：(美) 史蒂文 H. 沃尔德曼, Steven H.Voldman, 雷鑑铭
出版社：机械工业出版社
出版时间：20160101
ISBN：978-7-111-52318-5
索书号：TN60/12
分类号：TN60
页数：xx, 286页
价格：CNY79.00
丛书：国际电气工程先进技术译丛
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本书系统地介绍了过电应力 (EOS) 器件、电路与系统设计, 并给出了大量实例, 将EOS理论工程化。主要内容有EOS基础、EOS现象、EOS成因、EOS源、EOS物理及EOS失效机制, EOS电路与系统设计及EDA, 半导体器件、电路与系统中的EOS失效及EOS片上与系统设计。本书是作者半导体器件可靠性系列书籍的延续。对于专业模拟集成电路及射频集成电路设计工程师, 以及系统ESD工程师具有较高的参考价值。随着纳米电子时代的到来, 本书是一本重要的参考书, 同时也是面向现代技术问题有益的启示。