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出版社:"机械工业出版社"
作者:"(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi), 贺海文, 唐威昀"
数字系统测试和可测试性设计
:(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi), 贺海文, 唐威昀
作者：
(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi), 贺海文, 唐威昀
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
20150101
ISBN：
978-7-111-50154-1
索书号：
TP271/62
分类号：
TP271
页数：
15, 368页
价格：
CNY85.00
丛书：
电子与嵌入式系统设计译丛
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本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。
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文献类型
中文图书
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出版社
机械工业出版社
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作者
(美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比(Zainalabedin Navabi), 贺海文, 唐威昀
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