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电子系统设计
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出版社:"电子工业出版社"
作者:"(美) 纳瓦毕(Navabi,Z.), 夏宇闻改"
Verilog数字系统设计: RTL综合、测试平台与验证
:(美) 纳瓦毕(Navabi,Z.), 夏宇闻改
作者：
(美) 纳瓦毕(Navabi,Z.), 夏宇闻改
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
20070101
ISBN：
978-7-121-05241-5
索书号：
TP312VH/37\2(W)
分类号：
TP312VH
页数：
17,316页
价格：
CNY35.00
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书主要讲述基于IEEE Std 1364-2001版本的Verilog硬件描述语言，着重讲述了使用Verilog进行数字系统的设计、验证及综合。根据数字集成电路设计的工程需求，本书重点关注了testbench的设计编写、验证和测试技术，深入讲述了基于Verilog HDL的开关级、门级、RTL级、行为级和系统级建模技术，从而使读者能尽快掌握硬件电路和系统的高效Verilog编程技术。
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中文图书
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电子工业出版社
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作者
(美) 纳瓦毕(Navabi,Z.), 夏宇闻改
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20070101
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