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电子系统设计
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作者:"(美) Miron Abramovici, Melvin A. breuer, Arthur D. Frideman, 李华伟, 鲁魏"
出版年:"20060101"
数字系统测试与可测试设计
:(美) Miron Abramovici, Melvin A. breuer, Arthur D. Frideman, 李华伟, 鲁魏
作者：
(美) Miron Abramovici, Melvin A. breuer, Arthur D. Frideman, 李华伟, 鲁魏
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
20060101
ISBN：
7-111-19237-0
索书号：
TP271/32
分类号：
TP271
页数：
449页
价格：
CNY56.00
丛书：
电子工程丛书
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本书主要讲述了数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法等内容。
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文献类型
中文图书
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出版社
机械工业出版社
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作者
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