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电子系统设计
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作者:"(美) Peter Goos, (美) Bradley Jones, 杨贵军 ... "
出版年:"20220101"
最优试验设计: 案例分析
:(美) Peter Goos, (美) Bradley Jones, 杨贵军 ...
作者：
(美) Peter Goos, (美) Bradley Jones, 杨贵军 ...
出版社：
电子工业出版社
出版时间：
20220101
ISBN：
978-7-121-43264-4
索书号：
O212.6/21
分类号：
O212.6
页数：
216页
价格：
CNY89.00
丛书：
统计分析系列
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书共11章，内容包括：简单比较试验、最优筛选试验、筛选试验的跟随试验、含有分类因子的响应曲面设计、规则设计区域的响应曲面设计、带有过程因子的混料试验、区组响应曲面设计、区组筛选试验、含有协变量的试验设计、裂区设计、双向裂区设计。
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文献类型
中文图书
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出版社
电子工业出版社
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作者
(美) Peter Goos, (美) Bradley Jones, 杨贵军 ...
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