返回检索首页
我的图书馆登录
书 名
作 者
分类号
ISBN
索书号
主题词
出版社
任意词
每页显示
10
20
50
排序选项
排序方式
出版日期
索书号
出版社
排序方式
降序排列
升序排列
天变
共有
1
条记录
页码：
1
/
1
每页显示：
10
记录
跳转：
出版社:"天津社会科学院出版社"
文献类型:
你的借口: 如何改变影响终身的自我挫败性思维习惯
:韦恩.W.戴尔, Wayne W. Dyer, 崔京瑞
作者：
韦恩.W.戴尔, Wayne W. Dyer, 崔京瑞
出版社：
天津社会科学院出版社
出版时间：
20100101
ISBN：
978-7-80688-615-1
索书号：
B848/66
分类号：
B848
页数：
198页
价格：
CNY29.80
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书向读者阐释了如何改变潜藏于内的自我挫败性思维模式,书中韦恩·戴尔博士指出了每个人都会有意识或无意识使用的“精神拐杖”,并分析了各种借口的形成原因与转换办法,指引读者如何抛弃这些陈规陋习而终身受益。
详细信息
索书号
展开
缩小检索范围
文献类型
中文图书
(
1
)
出版社
天津社会科学院出版社
(
1
)
只显示前10条......
天津社会科学院出版社
(
1
)
查看更多信息......
作者
韦恩.W.戴尔, Wayne W. Dyer, 崔京瑞
(
1
)
只显示前10条......
韦恩.W.戴尔, Wayne W. Dyer, 崔京瑞
(
1
)
查看更多信息......
出版年
20100101
(
1
)
只显示前10条......
20100101
(
1
)
查看更多信息......
天变
共有
1
条记录
页码：
1
/
1
每页显示：
10
记录
跳转：