返回检索首页
我的图书馆登录
书 名
作 者
分类号
ISBN
索书号
主题词
出版社
任意词
每页显示
10
20
50
排序选项
排序方式
出版日期
索书号
出版社
排序方式
降序排列
升序排列
半导体科学与技术丛书
共有
1
条记录
共耗时[0.000]秒
页码:
1
/
1
每页显示:
10
记录
跳转:
出版年:"20070001"
半导体的检测与分析
:许振嘉
作者:
许振嘉
出版社:
科学出版社
出版时间:
20070001
ISBN:
978-7-03-019462-6
索书号:
TN304/7\2
分类号:
TN304.07
页数:
635页
价格:
CNY98.00
丛书:
半导体科学与技术丛书
复本数:
在馆数:
累借天数:
累借次数:
全书共分7章,包括引论,半导体的高分辨X射线衍射,光学检测与分析,表面、薄膜成分分析,扫描探针显微学在半导体中的运用,透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征。书中根据实践列举了一些实例,同时附有大量参考文献和常用的数据,以便读者进一步参考和应用。
详细信息
索书号
展开
缩小检索范围
文献类型
中文图书
(
1
)
出版社
科学出版社
(
1
)
只显示前10条......
科学出版社
(
1
)
查看更多信息......
作者
许振嘉
(
1
)
只显示前10条......
许振嘉
(
1
)
查看更多信息......
出版年
20070001
(
1
)
只显示前10条......
20070001
(
1
)
查看更多信息......
半导体科学与技术丛书
共有
1
条记录
共耗时[0.000]秒
页码:
1
/
1
每页显示:
10
记录
跳转: