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半导体科学与技术丛书
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出版年:"20080101"
微纳米MOS器件可靠性与失效机理
:郝跃, 刘红侠
作者：
郝跃, 刘红侠
出版社：
科学出版社
出版时间：
20080101
ISBN：
978-7-03-020586-5
索书号：
TN4/50
分类号：
TN4
页数：
xiv, 446页
价格：
CNY78.00
丛书：
半导体科学与技术丛书
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书主要介绍了微纳米MOS器件的失效机理与可靠性理论, 目的是为读者在微电子器件可靠性理论和微电子器件的设计与应用之间建立联系, 向读者提供一些微纳米MOS器件的主要可靠性问题和相应的解决方法。
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索书号
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半导体自旋电子学
:夏建白, 葛惟昆, 常凯
作者：
夏建白, 葛惟昆, 常凯
出版社：
科学出版社
出版时间：
20080101
ISBN：
978-7-03-022117-9
索书号：
O472/4
分类号：
O472
页数：
365页
价格：
CNY68.00
丛书：
半导体科学与技术丛书
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书介绍了半导体自旋电子学的一些基本概念和国际国内的研究成果，其中包括：半导体中磁离子的性质、稀磁半导体中巨Zeeman分裂、铁磁半导体的居里温度、自旋极化电子的注入、自旋驰豫等。
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中文图书
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出版社
科学出版社
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作者
夏建白, 葛惟昆, 常凯
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郝跃, 刘红侠
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出版年
20080101
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