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数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计/(美) Alfred L. Crouch, 何虎, 马立伟

  • 附件:光盘1片
    • 附注提要
    本书内容包括: 测试和可测性设计的基础知识, 自动测试图形生成的基本原理, 扫描结构和技术, 存储器测试结构与技术, 嵌入式内核测试的基本原理等。
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    馆藏信息
    序号 索书号 条码号 订户 馆藏地点 馆藏状态 借出日期 还回日期 流通类型 预约处理 卷册说明 登录号
    1 TN431.2/24 GP449063 HDFT 总馆光盘库 入藏 外借光盘 0
    2 TN431.2/24 GP449062 HDFT 总馆光盘库 入藏 外借光盘 0
    3 TN431.2/24 GP449061 HDFT 总馆光盘库 入藏 外借光盘 0
    4 TN431.2/24 GP449060 HDFT 总馆光盘库 入藏 外借光盘 0
    5 TN431.2/24 GP449059 HDFT 总馆光盘库 入藏 外借光盘 0
    6 TN431.2/24 A0449063 HDFT 总馆闭架库A 入藏 外借图书 30072655
    7 TN431.2/24 A0449062 HDFT 总馆闭架库A 入藏 外借图书 30072656
    8 TN431.2/24 A0449061 HDFT 总馆闭架库A 入藏 外借图书 30104463
    9 TN431.2/24 A0449060 HDFT 总馆闭架库A 入藏 外借图书 30104464
    10 TN431.2/24 A0449059 HDFT 总馆 入藏 外借图书 0