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作者:"(美) Alfred L. Crouch, 何虎, 马立伟"
数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计
:(美) Alfred L. Crouch, 何虎, 马立伟
作者：
(美) Alfred L. Crouch, 何虎, 马立伟
出版社：
机械工业出版社
出版时间：
20060101
ISBN：
7-111-18706-7
索书号：
TN431.2/24
分类号：
TN431.2
页数：
284页
价格：
CNY38.00
丛书：
电子与电气工程丛书
复本数：
在馆数：
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累借次数：
本书内容包括: 测试和可测性设计的基础知识, 自动测试图形生成的基本原理, 扫描结构和技术, 存储器测试结构与技术, 嵌入式内核测试的基本原理等。
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文献类型
中文图书
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出版社
机械工业出版社
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作者
(美) Alfred L. Crouch, 何虎, 马立伟
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20060101
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