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半导体科学与技术丛书
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出版年:"20100101"
半导体材料测试与分析
:杨德仁
作者：
杨德仁
出版社：
科学出版社
出版时间：
20100101
ISBN：
978-7-03-027036-8
索书号：
TN304/18
分类号：
TN304
页数：
xi, 381页
价格：
CNY78.00
丛书：
半导体科学与技术丛书
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本书主要介绍半导体材料的各种测试分析技术, 涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容: 包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。
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微机电系统设计: 建模、仿真与可视化
:卢桂章, 赵新
作者：
卢桂章, 赵新
出版社：
科学出版社
出版时间：
20100101
ISBN：
978-7-03-029220-9
索书号：
TM38/18
分类号：
TM38
页数：
278页
价格：
CNY56.00
丛书：
半导体科学与技术丛书
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本书建立了一种微电子机械器件的设计方法, 对现有设计习题功能作了一些重要的补充和完善, 其基本思路是在设计阶段, 当版图和工艺设计完成后, 通过建立运动部件的动态模型, 进行三维可视化仿真, 形成器件在虚拟环境中运行, 从而对器件的运行功能进行评测。这种功能主要体现在: 应用三维可视化技术得到器件加工后的三维实体模型和进行可加工性验证; 对此实体模型进行动态建模, 并进行虚拟运行, 以考察其运动性能; 建立基于IP库的设计习题, 提供了一种自顶向下和自底向上相结合的设计手段。
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半导体中的自旋物理学
:(美) M.I.迪阿科诺夫, 姬扬
作者：
(美) M.I.迪阿科诺夫, 姬扬
出版社：
科学出版社
出版时间：
20100101
ISBN：
978-7-03-028286-6
索书号：
O47/17
分类号：
O47
页数：
14, 394页
价格：
CNY88.00
丛书：
半导体科学与技术丛书
复本数：
在馆数：
累借天数：
累借次数：
本书介绍了半导体自旋物理学当前研究全貌，共13章，每章都是由从事该方向研究多年、长期处于研究前沿的专家撰写。在概述了半导体物理学和自旋物理学的基本知识之后，该书重点介绍了当前研究的热点和重要成果，在实验技术和实验测量方面的描述更为详尽。
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文献类型
中文图书
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出版社
科学出版社
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科学出版社
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作者
(美) M.I.迪阿科诺夫, 姬扬
(
1
)
卢桂章, 赵新
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杨德仁
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卢桂章, 赵新
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杨德仁
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出版年
20100101
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